Розроблено прилад для технічної діагностики фізико-механічних характеристик тонких поверхневих шарів на мікро- та нанорівнях. Прилад забезпечує можливість отримання інформації, необхідної для оцінки функціонування, визначення та прогнозування технічного стану матеріалів.

Прилад експлуатується в інститутах НАНУ: ІПМ, ІНМ